電子元器件是元件和器件的總稱。常用電子元器（qì）件：電阻、電容、二極管、三極管（guǎn）、變壓器、繼電器、壓敏、液晶、連接器、可控矽、輕觸開關、蜂鳴器、各種傳感器（qì）、接（jiē）插件、電（diàn）機、天線等等。

1、機械衝擊：確定光電子器件是否（fǒu）能適用於在（zài）需經受中等嚴酷程序衝擊（jī）的電子設備中，衝擊可能是裝卸、運輸（shū）或現場使用（yòng）過程（chéng）中突然受力或劇烈振動所（suǒ）產生的。

2、變頻振動測試：確定在規範頻率範圍內振動對光電子器各部件的影（yǐng）響。

3、熱（rè）衝擊測試：確（què）定光電子器件在遭受到溫度劇變時的抵抗（kàng）能力和產生（shēng）的作用。

4、插拔耐久性（xìng）測試：確（què）定（dìng）光電（diàn）子器件光纖連接（jiē）器的插入和拔出（chū），光功率、損耗和反射等參數是否滿足重複性要（yào）求。

5、存儲試驗：確（què）定光電子器件能否經受高溫和（hé）低（dī）溫下運輸和儲存（cún）。

6、溫度循環測試（shì）：確定（dìng）光電子器件承受極高溫和極低溫的能力，以及極高溫和極低（dī）溫度交替變化（huà）對（duì）光電子器件的影響。

7、恒定濕熱：確定密封（fēng）和非密封光電子器件能否同時承（chéng）受規定的溫度和（hé）濕（shī）度。

8、高溫（wēn）壽（shòu）命測試（shì）：確定光電子器件高溫加速老（lǎo）化失效機（jī）理和工作壽命。

加速老化試（shì）驗：在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅動電流進行的加速老化，依據試驗的結（jié）果來判（pàn）定光電子器件（jiàn）具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，並可對（duì）光電子器件（jiàn）工作條件進行調（diào）整和對可靠性進行計算。

1、高溫加速老化：加速老化（huà）過程中最（zuì）基本環境應力式高（gāo）溫。在（zài）實（shí）驗過程中，應（yīng）定斯監測選定的參數，直到退化超過壽命終（zhōng）止為止。

2、恒溫試（shì）驗測試：恒溫試驗與高溫運行試驗類似，應規定（dìng）恒溫試驗樣品數量（liàng）和允許失效數。

3、變（biàn）溫試驗：變（biàn）化濕度的高溫加速老化試驗是定期按順（shùn）序逐步升高溫度

加速老化試驗（yàn）：在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅動電流進行的加速老化，依據試驗的結果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，並（bìng）可對光電子器件工作條件進行調整和對可靠性進行計算。

1、高（gāo）溫加速老化：加速老化過程中最基本環境應力式高溫。在實驗過程中，應定斯（sī）監測選定的參（cān）數，直（zhí）到退（tuì）化超（chāo）過壽（shòu）命終止為止。

2、恒溫（wēn）試驗（yàn）測試：恒（héng）溫試驗與高溫（wēn）運行試驗類（lèi）似，應規定恒（héng）溫試驗樣品數量和允許失效數（shù）。

3、變溫試驗：變化濕度的高溫加速老化試驗是（shì）定期按順序逐步升（shēng）高溫度

一、 設備用途:

    微電腦（nǎo）插拔力試驗機適用（yòng）於各類連（lián）接（jiē）器（件）、插頭插座等產品作（zuò）插入、拔出之疲（pí）勞壽命測試；

電動插拔力試驗機采用台灣（wān）AC調速電機為動力源，質量可靠，耐久使用；配以專（zhuān）用對心夾持夾具（jù）對連（lián）接（jiē）件（器）作插拔測（cè）試，由於采用導程銅套降低了機械摩擦（cā）及噪聲；

電動插拔力試（shì）驗機可選配微型印表機打印插入力與拔出力，且打印間隔可以設定，自動計算最大力、最小力、平均力。

二、設備參（cān）數: