電子元器件是元件和器件的（de）總稱。常用電子元器件：電阻、電容（róng）、二極管、三極管、變壓器、繼電器、壓敏、液（yè）晶、連接器、可控（kòng）矽、輕觸開關、蜂鳴器、各種傳感器、接插件、電機、天線等等。

1、機械衝（chōng）擊：確定光電子器件是（shì）否能適用於在需經受中等嚴酷程（chéng）序衝擊的電子設備（bèi）中，衝擊可能是裝卸、運輸或現場使（shǐ）用過程中突然受力或劇烈振動所產生的。

2、變頻振動測試：確定在規範頻率範圍內振動對光電子器各（gè）部件的影響。

3、熱衝擊測試（shì）：確定光電子器件在（zài）遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產生的作用。

4、插拔（bá）耐久性測試（shì）：確定光電子器（qì）件光纖連接器的插入和拔出，光功率、損耗（hào）和反射等參數是否滿足重複性要求。

5、存儲試驗：確定光電（diàn）子器件能否經受高溫和低溫下運輸和儲存。

6、溫度循環測試：確定光電（diàn）子器件承受極高溫（wēn）和極低溫的能力，以及極高溫和極低溫度交替變化（huà）對光電（diàn）子器件的影響。

7、恒定濕熱：確定密（mì）封和非密封（fēng）光電子器件能否同時承受規定的溫度和濕度。

8、高溫（wēn）壽命測試：確定光電子器件高溫加速老化失效機（jī）理和工（gōng）作壽命。

加速老化試驗（yàn）：在光（guāng）電子（zǐ）器（qì）件上施加高溫、高濕和一定的驅動（dòng）電流（liú）進行的加速老化，依（yī）據試驗（yàn）的結果來判定（dìng）光電子器件具備功（gōng）能和（hé）喪失功能，以及接收和拒（jù）收（shōu），並可對（duì）光電子器件工作條件（jiàn）進行調整和對可靠性進行計算。

1、高溫加速老化：加速老化過程中最基本環境應力式（shì）高溫。在實驗過程中（zhōng），應定斯監測選定的參數，直（zhí）到退化超過壽命（mìng）終止為止。

2、恒溫試驗測試：恒溫試驗與高溫運行試驗（yàn）類似，應規定恒溫試驗樣品（pǐn）數量和允許失（shī）效數。

3、變溫試驗：變化濕度的（de）高溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度

加速老化試驗：在光電（diàn）子器件上施加高溫、高濕（shī）和一定的驅動電流進行的（de）加速老化，依據試驗的結果來判定光電子器（qì）件具備功能和喪失功能，以及接收（shōu）和拒收，並可對光電子器件工作（zuò）條件進行調整和對可靠性進行計算。

1、高（gāo）溫加速老化：加速老化過程中最基本環（huán）境應力（lì）式高溫。在實驗過程中，應定斯監測（cè）選定的參數，直到退化超過壽命終（zhōng）止為止。

2、恒溫試（shì）驗測試：恒溫試驗與高溫運行試驗類似（sì），應規定恒溫試驗樣（yàng）品數量和允許失（shī）效數。

3、變溫試驗：變化濕度的高溫加（jiā）速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度（dù）

一、 設備用途:

    微電腦插拔力試驗機適用於各類連（lián）接器（件（jiàn））、插頭插（chā）座等產品作插（chā）入、拔出之疲勞壽命測試；

電動插拔力試驗機采用台灣AC調速電機為動力源，質量可靠，耐久使用；配以專用對心夾持夾具對連接件（jiàn）（器）作插拔測試（shì），由於采用導程銅套降低了機械摩擦及噪聲；

電動插拔力試（shì）驗機可選配微型印表機打印插入力與拔出力，且打印間隔可以（yǐ）設定，自（zì）動計算最大力、最小（xiǎo）力、平均力（lì）。

二、設備參數: